Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld

Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld

Muestras geológicas de arcilla del valle de Moche fueron investigadas con el objetivo de continuar elaborando una base de datos de arcillas que se pueda contrastar con la composición mineralógica de muestras arqueológicas. Un estudio de pigmentos blancos de mural, con fines de preservación y puesta...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Frank Moya, Luis Lizarraga, Elvira Zeballos-Velásquez, Gabriel Prieto, Esteban Asto, Miguel Andía
Format: Article
Language:English
Published: Instituto de Investigación de Física 2024-04-01
Series:Revista de Investigación de Física
Subjects:
Arcilla
pigmento
difracción de rayos X
método de Rietveld
Online Access:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/28010
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Similar Items

Similar Items