ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) относится к числу широко распространенных современных микроскопических методик, предназначенных для получения визуальной информации о микростроении твердофазных объектов (сплавов, металлов и т.д.). В работе приведены области применения сканирующего электронн...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Юлия Андреевна Шлярова, Виталий Владиславович Шляров, Ирина Алексеевна Панченко, Сергей Валерьевич Коновалов, Филипьев Роман Анатольевич
Format: Article
Language:English
Published: Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова 2022-12-01
Series:Ползуновский вестник
Subjects:
сканирующий электронный микроскоп, силумин, высокоэнтропийный сплав, структура, поверхность, анализ, излом
Online Access:https://ojs.altstu.ru/index.php/PolzVest/article/view/336
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Similar Items

Similar Items