ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) относится к числу широко распространенных современных микроскопических методик, предназначенных для получения визуальной информации о микростроении твердофазных объектов (сплавов, металлов и т.д.). В работе приведены области применения сканирующего электронн...
Saved in:
| Main Authors: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова
2022-12-01
|
| Series: | Ползуновский вестник |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://ojs.altstu.ru/index.php/PolzVest/article/view/336 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| _version_ | 1832557546808803328 |
|---|---|
| author | Юлия Андреевна Шлярова Виталий Владиславович Шляров Ирина Алексеевна Панченко Сергей Валерьевич Коновалов Филипьев Роман Анатольевич |
| author_facet | Юлия Андреевна Шлярова Виталий Владиславович Шляров Ирина Алексеевна Панченко Сергей Валерьевич Коновалов Филипьев Роман Анатольевич |
| author_sort | Юлия Андреевна Шлярова |
| collection | DOAJ |
| description | Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) относится к числу широко распространенных современных микроскопических методик, предназначенных для получения визуальной информации о микростроении твердофазных объектов (сплавов, металлов и т.д.). В работе приведены области применения сканирующего электронного микроскопа (полупроводники; биология и медицина; химическая, нефтехимическая, горнодобывающая промышленности; научно-исследовательские лаборатории). Проведеныпримеры анализа различных структур материалов (высокоэнтропийный сплав, силумин, структура изломов алюминиевого сплава А5М), полученных с помощью метода сканирующего электронного микроскопа. Показано, что в микроструктуре высокоэнтропийного сплава системы Mn‒Fe‒Co‒Cr‒Niприсутствуют округлые поры (1,3±0,1 мкм). Причиной образования пор может быть специфика технологии проволочно-дугового аддитивного производства. Структура силумина системы AL-10%SIдемонстрирует многофазный, морфологически разнообразный характер. Облучение электронным пучком силумина сопровождается плавлением алюминия вдоль поверхностей раздела с включениями второй фазы. Излом образца алюминия А5М, разрушенного в условиях усталости,имеет пепельно-серый цвет и сильно шероховатую матовую поверхность. В результате исследований деформационных характеристик технически чистого алюминия А5М было установлено, что образцы технически чистого алюминия в исходном состоянии достигают критической деформации и разрушаются в среднем при 18742±654 циклов. Применение магнитного поля 0,1 Тл постоянной геометрии приводит к увеличению количества циклов до разрушения на 36,8 %, в среднем образцы разрушаются при 25207±2349 циклов. |
| format | Article |
| id | doaj-art-cae49f16f9ca47fb8c66d7aa0cad6382 |
| institution | Kabale University |
| issn | 2072-8921 |
| language | English |
| publishDate | 2022-12-01 |
| publisher | Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова |
| record_format | Article |
| series | Ползуновский вестник |
| spelling | doaj-art-cae49f16f9ca47fb8c66d7aa0cad63822025-02-03T04:22:23ZengАлтайский государственный технический университет им. И.И. ПолзуноваПолзуновский вестник2072-89212022-12-01249910810.25712/ASTU.2072-8921.2022.4.2.013336ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИЮлия Андреевна Шлярова0https://orcid.org/0000-0001-5677-1427Виталий Владиславович Шляров1https://orcid.org/0000-0001-8130-648XИрина Алексеевна Панченко2https://orcid.org/0000-0002-1631-9644Сергей Валерьевич Коновалов3https://orcid.org/0000-0003-4809-8660Филипьев Роман Анатольевич4https://orcid.org/0000-0001-8165-0141Сибирский государственный индустриальный университетСибирский государственный индустриальный университетСибирский государственный индустриальный университетСибирский государственный индустриальный университетКузбасский институт ФСИН РоссииСканирующая электронная микроскопия (СЭМ) относится к числу широко распространенных современных микроскопических методик, предназначенных для получения визуальной информации о микростроении твердофазных объектов (сплавов, металлов и т.д.). В работе приведены области применения сканирующего электронного микроскопа (полупроводники; биология и медицина; химическая, нефтехимическая, горнодобывающая промышленности; научно-исследовательские лаборатории). Проведеныпримеры анализа различных структур материалов (высокоэнтропийный сплав, силумин, структура изломов алюминиевого сплава А5М), полученных с помощью метода сканирующего электронного микроскопа. Показано, что в микроструктуре высокоэнтропийного сплава системы Mn‒Fe‒Co‒Cr‒Niприсутствуют округлые поры (1,3±0,1 мкм). Причиной образования пор может быть специфика технологии проволочно-дугового аддитивного производства. Структура силумина системы AL-10%SIдемонстрирует многофазный, морфологически разнообразный характер. Облучение электронным пучком силумина сопровождается плавлением алюминия вдоль поверхностей раздела с включениями второй фазы. Излом образца алюминия А5М, разрушенного в условиях усталости,имеет пепельно-серый цвет и сильно шероховатую матовую поверхность. В результате исследований деформационных характеристик технически чистого алюминия А5М было установлено, что образцы технически чистого алюминия в исходном состоянии достигают критической деформации и разрушаются в среднем при 18742±654 циклов. Применение магнитного поля 0,1 Тл постоянной геометрии приводит к увеличению количества циклов до разрушения на 36,8 %, в среднем образцы разрушаются при 25207±2349 циклов.https://ojs.altstu.ru/index.php/PolzVest/article/view/336сканирующий электронный микроскоп, силумин, высокоэнтропийный сплав, структура, поверхность, анализ, излом |
| spellingShingle | Юлия Андреевна Шлярова Виталий Владиславович Шляров Ирина Алексеевна Панченко Сергей Валерьевич Коновалов Филипьев Роман Анатольевич ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ Ползуновский вестник сканирующий электронный микроскоп, силумин, высокоэнтропийный сплав, структура, поверхность, анализ, излом |
| title | ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ |
| title_full | ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ |
| title_fullStr | ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ |
| title_full_unstemmed | ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ |
| title_short | ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ СПЛАВОВ СИСТЕМ Al‒Si,Mn‒Fe‒CoМЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ |
| title_sort | исследование структуры сплавов систем al si mn fe coметодами сканирующей электронной микроскопии |
| topic | сканирующий электронный микроскоп, силумин, высокоэнтропийный сплав, структура, поверхность, анализ, излом |
| url | https://ojs.altstu.ru/index.php/PolzVest/article/view/336 |
| work_keys_str_mv | AT ûliâandreevnašlârova issledovaniestrukturysplavovsistemalsimnfecometodamiskaniruûŝejélektronnojmikroskopii AT vitalijvladislavovičšlârov issledovaniestrukturysplavovsistemalsimnfecometodamiskaniruûŝejélektronnojmikroskopii AT irinaalekseevnapančenko issledovaniestrukturysplavovsistemalsimnfecometodamiskaniruûŝejélektronnojmikroskopii AT sergejvalerʹevičkonovalov issledovaniestrukturysplavovsistemalsimnfecometodamiskaniruûŝejélektronnojmikroskopii AT filipʹevromananatolʹevič issledovaniestrukturysplavovsistemalsimnfecometodamiskaniruûŝejélektronnojmikroskopii |