ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕСТОВЫХ НАБОРОВ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ АДРЕСНЫХ ЛИНИЙ ОЗУ
Предлагается подход к определению тестовых наборов для обнаружения неисправностей адресных линий оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Приведенные в статье теоретические и экспериментальные результаты показывают, что данный подход позволяет существенно сократить количество тестовых наборов, необ...
Saved in:
| Format: | Article |
|---|---|
| Language: | Russian |
| Published: |
National Academy of Sciences of Belarus, the United Institute of Informatics Problems
2018-10-01
|
| Series: | Informatika |
| Online Access: | https://inf.grid.by/jour/article/view/550 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Summary: | Предлагается подход к определению тестовых наборов для обнаружения неисправностей адресных линий оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Приведенные в статье теоретические и экспериментальные результаты показывают, что данный подход позволяет существенно сократить количество тестовых наборов, необходимых для обнаружения всех неисправностей адресных линий ОЗУ, по сравнению с существующими маршевыми алгоритмами. |
|---|---|
| ISSN: | 1816-0301 |