METROLOGICAL PERFORMANCE MODELING OF PROBE ELECTROMETERS CAPACITIVE SENSORS by A. K. Tyavlovsky, O. K. Gusev, A. L. Zharin

Get full text

THE IDENTIFICATION ALGORITHM OF METROLOGICAL CHARACTERISTICS OF WIDE-RANGE PHOTOVOLTAIC SEMICONDUCTOR CONVERTERS WITH MULTIPLY IMPURITIES by O. K. Gusev, A. I. Svistun, L. I. Shadurskaya, N. V. Yarjembitskaya

Get full text

Measuring transducers for optical diagnostic system with multifunctional unitary photovoltaic converters by R. I. Vorobei, O. K. Gusev, A. I. Svistun, A. K. Tyavlovsky, K. L. Tyavlovsky, L. I. Shadurskaya

Get full text

ANALYSIS OF SURFACE DEFECTS OF ALUMINUM AND ITS ALLOYS WITH A SCANNING KELVIN PROBE by A. K. Tyavlovsky, A. L. Zharin, O. K. Gusev, R. I. Varabei, N. I. Muhurov, G. V. Sharonov, K. U. Pantsialeyeu

Get full text

KELVIN PROBE’S STRAY CAPACITANCE AND NOISE SIMULATION by S. Danyluk, A. V. Dubanevich, O. K. Gusev, A. I. Svistun, A. K. Tyavlovsky, K. L. Tyavlovsky, R. I. Vorobey, A. L. Zharin

Get full text

THE MULTIFUNCTION MEASURING CONVERTER FOR MONITORING OF LIQUID TECHNOLOGICAL MEDIA by R. I. Vorobey, O. K. Gusev, A. L. Zharin, Yu. G. Kuzminsky, A. I. Svistun, A. K. Tyavlovsky, K. L. Tyavlovsky, S. V. Shilko

Get full text

STUDY OF SILICON-INSULATOR STRUCTURE DEFECTS BASED ON ANALYSIS OF A SPATIAL DISTRIBUTION OF A SEMICONDUCTOR WAFERS’ SURFACE POTENTIAL by R. I. Vorobey, O. K. Gusev, A. L. Zharin, A. N. Petlitsky, V. A. Pilipenko, A. S. Turtsevitch, A. K. Tyavlovsky, K. L. Tyavlovsky

Get full text

Surface Electric Potential Measurement with a Static Probe by R. I. Vorobey, O. K. Gusev, A. I. Zharin, V. A. Mikitsevich, K. U. Pantsialeyeu, A. V. Samarina, A. I. Svistun, A. K. Tyavlovsky, K. L. Tyavlovsky

Get full text

The MAJORANA DEMONSTRATOR Neutrinoless Double-Beta Decay Experiment by N. Abgrall, E. Aguayo, F. T. Avignone, A. S. Barabash, F. E. Bertrand, M. Boswell, V. Brudanin, M. Busch, A. S. Caldwell, Y.-D. Chan, C. D. Christofferson, D. C. Combs, J. A. Detwiler, P. J. Doe, Yu. Efremenko, V. Egorov, H. Ejiri, S. R. Elliott, J. Esterline, J. E. Fast, P. Finnerty, F. M. Fraenkle, A. Galindo-Uribarri, G. K. Giovanetti, J. Goett, M. P. Green, J. Gruszko, V. E. Guiseppe, K. Gusev, A. L. Hallin, R. Hazama, A. Hegai, R. Henning, E. W. Hoppe, S. Howard, M. A. Howe, K. J. Keeter, M. F. Kidd, A. Knecht, O. Kochetov, S. I. Konovalov, R. T. Kouzes, B. D. LaFerriere, J. Leon, L. E. Leviner, J. C. Loach, P. N. Luke, S. MacMullin, R. D. Martin, S. Mertens, L. Mizouni, M. Nomachi, J. L. Orrell, C. O'Shaughnessy, N. R. Overman, David Phillips, A. W. P. Poon, K. Pushkin, D. C. Radford, K. Rielage, R. G. H. Robertson, M. C. Ronquest, A. G. Schubert, B. Shanks, T. Shima, M. Shirchenko, K. J. Snavely, N. Snyder, D. Steele, J. Strain, A. M. Suriano, J. Thompson, V. Timkin, W. Tornow, R. L. Varner, S. Vasilyev, K. Vetter, K. Vorren, B. R. White, J. F. Wilkerson, T. Williams, W. Xu, E. Yakushev, A. R. Young, C.-H. Yu, V. Yumatov

Get full text