Дифрактометрические исследования особенностей формирования слоев GaN на подложках кремния методом МПЭ ПА без использования процедуры нитридизации подложки и промежуточного AlN заро... by Павел Владимирович Середин, Ольга Константиновна Кошелева, Дмитрий Леонидович Голощапов, Никита Сергеевич Буйлов, Ярослав Анатольевич Пешков, Андрей Михайлович Мизеров, Сергей Николаевич Тимошнев, Максим Сергеевич Соболев, Шукрилло Шамсидинович Шарофидинов

Get full text